手持式合金分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域◆廢舊金屬回收◆PMI鑒別◆生產(chǎn)制造QA/QC控制◆流體加速腐蝕◆貴金屬分析 產(chǎn)品特點(diǎn) 性能 精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合號(hào)和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量 速度快，操作簡(jiǎn)單 “開(kāi)機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過(guò)程僅需數(shù)秒便可完成，合號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。
手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小，便攜、方便野外工作，隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析，設(shè)備無(wú)需預(yù)熱，可直接測(cè)試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點(diǎn)是無(wú)損、檢測(cè).手持合金測(cè)試儀既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞。高清攝像頭檢測(cè)更加 內(nèi)置500萬(wàn)高清晰攝像頭，可以隨時(shí)觀察被測(cè)樣品的測(cè)試位置。

手持式光譜儀在使用的時(shí)候，對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類(lèi)磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。

手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔，檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。 　　
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意，防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí)，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池，充電。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),可以知道元素的種類(lèi),這是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線(xiàn)的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
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